8渭柏Trimos 光學(xué)表面測量、可進行深度測量
1. 制表業(yè)中的精細粗糙度測量
探索傳統(tǒng)與技術(shù)的結(jié)合，由 Trimos 光學(xué)測量儀器提供支持。了解這些工具如何提高精細粗糙度測量，使制表師能夠在每件鐘表中保持高的精度和工藝標(biāo)準(zhǔn)。
2.透明材料的粗糙度測量
透明材料的光學(xué)粗糙度測量
探索 Trimos 創(chuàng)新技術(shù)如何在各個行業(yè)中用于評估透明材料的表面質(zhì)量。從確保精確的制造標(biāo)準(zhǔn)到提高產(chǎn)品性能，光學(xué)粗糙度測量在保持質(zhì)量和可靠性方面發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。
3.化學(xué)沉積物精細測量
化學(xué)沉積的光學(xué)測量
Trimos TR Scan 儀器在化學(xué)沉積物的精細粗糙度測量方面具有精度。其先進的技術(shù)可以進行細致的分析，確保評估表面特性的準(zhǔn)確性和可靠性。憑借其高分辨率掃描功能，TR Scan 可以詳細了解化學(xué)沉積物的紋理和粗糙度，使用戶能夠優(yōu)化流程并提高產(chǎn)品質(zhì)量。無論是評估工業(yè)應(yīng)用的表面光潔度還是進行材料科學(xué)研究，Trimos TR Scan 都能提供性能和效率，使用戶能夠自信地實現(xiàn)精確的測量。
4.深度測量
創(chuàng)新深度剖析：Trimos 光學(xué)測量解決方案
使用 Trimos 光學(xué)儀器進行精確的深度測量。我們的技術(shù)可確保為各種應(yīng)用提供準(zhǔn)確、高效的深度剖析。從復(fù)雜的組件到復(fù)雜的結(jié)構(gòu)，Trimos 都能提供可靠的測量。探索我們深度測量精度解決方案。
測量臺階和凹槽
TR 掃描緊湊型 WLI
高精度非接觸表面測量
TR Scan Compact WLI 系列可以以亞納米級分辨率測量任何類型的材料。
它使用簡單、體積小，可輕松集成到實驗室環(huán)境中，并可實現(xiàn)快速、簡單的測量。
WLI（白光干涉測量）技術(shù)與壓電馬達相結(jié)合，可實現(xiàn)非�？斓臏y量。
工作臺可手動移動重達 5 公斤的工件。
電動工作臺可作為選件擴展 X&Y 測量范圍。
特點
非接觸式
占地面積小
測量范圍 400 µm
分辨率 0.1納米
使用極其簡單
2.5x 和 5x 邁克爾遜型光學(xué)元件，視野寬闊
可更換光學(xué)元件，或安裝在旋轉(zhuǎn)架上
